PCB沉金工藝流程簡介 注意事項
- 發布時間:2025-05-30 15:54:53
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PCB沉金(ENIG)工藝是高端PCB制造的核心環節,其質量直接影響焊接可靠性和產品壽命。以下是關鍵注意事項的深度解析,涵蓋工藝全流程風險防控:
一、前處理階段:根基性風險控制
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銅面清潔度
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嚴禁裸手接觸銅面(指紋油脂導致鍍層結合不良)
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微蝕深度需精準控制(1-2μm):過淺影響結合力,過深破壞線路精度
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水膜破裂測試必須100%通過(水膜連續≥30秒)
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活化鈀槽維護
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鈀濃度控制在3-20ppm,溫度≤30℃(高溫導致鈀顆粒團聚)
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槽液壽命≤3個MTO(金屬 turnovers)防止膠體鈀老化
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二、沉鎳階段:黑盤問題的核心防控區
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工藝參數紅線
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溫度:85±2℃(>90℃加速副反應,<80℃沉積不均)
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pH值:4.8±0.2(pH>5.5產生氫氧化鎳沉淀)
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裝載量:0.5-1.5dm²/L(過密導致邊緣效應)
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防黑盤關鍵措施
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磷含量控制7-9%:定期EDX檢測(高磷>10%易晶界腐蝕)
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禁止過度還原:次磷酸鈉濃度≤35g/L(高濃度加速鎳層腐蝕)
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沉鎳后停留時間<15分鐘(防止鎳層氧化)
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三、沉金階段:厚度與孔隙率的博弈
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金層厚度雙刃劍
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下限:0.05μm(<0.03μm孔隙率劇增)
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上限:0.15μm(>0.2μm引發“金脆”焊接裂紋)
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重點監控金厚均勻性(板中心vs邊緣差異≤20%)
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金槽致命污染防控
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鎳離子≤50ppm(超量導致金層發霧)
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采用雙槽設計(預浸槽截留鎳離子)
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金鹽添加需溶解過濾(直接投料產生顆粒)
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四、后處理:可靠性最后防線
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水洗三重保障
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5級逆流漂洗(首槽電導率<100μS/cm)
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終淋用18MΩ·cm去離子水(氯離子<1ppm)
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熱DI水洗(70℃)溶解有機殘留
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干燥工藝禁忌
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禁用壓縮空氣(含油含水導致氧化)
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熱風干燥溫度≤100℃(阻焊耐熱極限)
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高縱橫比板必須真空干燥
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五、環境與物料管理
項目 | 控制標準 | 失效后果 |
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車間潔凈度 | Class 10K級(ISO 7) | 微粒污染導致焊盤拒焊 |
金鹽存儲 | 雙鎖柜/氰化物專用庫 | 劇毒物質泄漏風險 |
包裝材料 | 硫含量<5ppm,濕度<10%RH | 金面發黑/硫化銀腐蝕 |
六、特殊設計風險規避
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密集BGA焊盤
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增加鎳層厚度至5-6μm(防焊點疲勞斷裂)
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禁用噴砂前處理(微坑藏藥水導致腐蝕)
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金手指區域
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金厚需≥0.2μm(插拔耐磨要求)
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單獨屏蔽沉鎳(避免非功能區增厚)
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七、致命缺陷預防清單
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黑盤(Black Pad)
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根本原因:鎳層過度腐蝕(磷富集晶界)
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防控:縮短鎳槽停留時間,添加絡合劑(檸檬酸鹽)
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金層剝離(Peeling)
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觸發條件:銅面氧化/鈀活化失效
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對策:活化后增加加速劑處理
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焊點脆裂
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金層>0.15μm + 錫鉛焊料(形成AuSn4脆性相)
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必須使用SAC305等無鉛焊料
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八、工藝監控鐵律
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槽液分析頻率
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沉鎳槽:每4小時測pH/溫度,每班次測鎳濃度
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金槽:每日測金含量,每周測鎳污染
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首件檢驗項目
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復制
下載
- 鎳厚/XRF(3點測量) - 金厚/XRF(板邊/中心/金手指) - 焊球測試(φ0.6mm Sn96.5Ag3Cu0.5) - 膠帶附著力測試(3M #600)
九、成本控制與環保
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金耗優化
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采用脈沖金工藝(降耗30%)
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廢金水電解回收率>95%
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廢水處理
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氰化物破氰:次氯酸鈉氧化(ORP>300mV)
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鎳離子沉淀:pH>10.5生成Ni(OH)?
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終極建議:建立ENIG工藝失效模式庫(含SEM圖+能譜數據),持續優化參數。高可靠性產品必須執行IPC-4552B Class 3標準,并通過3次288℃回流焊模擬驗證。工藝穩定的核心在于——精準控制化學平衡,而非依賴后道檢驗補救。
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